[1] 특허무효심판을 청구할 수 있는 이해관계인의 의미와 그 범위

[2] 명칭이 “반도체디바이스 시험장치”인 특허발명의 특허청구범위 제2항, 제3항, 제21항, 제23항, 제24항의 구성과 같은 형태의 물품을 제조·판매하거나 같은 형태의 방법을 실시하고 있지 않지만, 특허발명과 같은 종류의 반도체디바이스 시험장치를 제조·판매하거나 같은 방법의 반도체디바이스 검출방법을 실시하고 있는 이상, 위 청구항들에 대하여 특허무효심판을 청구할 수 있는 이해관계를 인정할 수 있다고 한 사례

[3] 명칭이 “반도체디바이스 시험장치”인 특허발명의 특허청구범위 제1항은 비교대상발명 1, 2를 결합하여 쉽게 발명할 수 있어 진보성이 부정되고, 위 제1항의 진보성이 인정됨을 전제로 이를 인용하고 있는 특허청구범위 제4항 내지 제10항 등 또한 진보성이 부정된다고 한 사례

[1] 특허무효심판을 청구할 수 있는 이해관계인이란 당해 특허발명의 권리존속으로 인하여 그 권리자로부터 권리의 대항을 받거나 받을 염려가 있어 그 피해를 받는 직접적이고도 현실적인 이해관계가 있는 사람을 말하고, 이에는 당해 특허발명과 같은 종류의 물품을 제조·판매하거나 제조·판매할 자도 포함된다.

[2] 명칭이 “반도체디바이스 시험장치”인 특허발명의 특허청구범위 제2항, 제3항, 제21항, 제23항, 제24항의 구성과 같은 형태의 물품을 제조·판매하거나 같은 형태의 방법을 실시하고 있지 않지만, 특허발명과 같은 종류의 반도체디바이스 시험장치를 제조·판매하거나 같은 방법의 반도체디바이스 검출방법을 실시하고 있는 이상, 위 청구항들에 대하여 특허무효심판을 청구할 수 있는 이해관계를 인정할 수 있다고 한 사례.

[3] 명칭이 “반도체디바이스 시험장치”인 특허발명의 특허청구범위 제1항은, 그 전체적인 구성과 작동과정이 비교대상발명 1과 같고, 반도체디바이스 검출센서, 타이밍 검출센서와 같은 기능을 하는 특징적인 구성이 비교대상발명 2에 나와 있으며, 다만 비교대상발명 2에서 반도체디바이스 검출센서의 설치위치에 관하여 아무런 한정을 하지 않은 점에서만 차이가 있으나, 그 설치위치는 테스트트레이 내의 반도체디바이스의 유무를 검출하는 목적에 따라 통상의 기술자가 쉽게 생각할 수 있는 정도에 지나지 않으므로, 비교대상발명 1, 2를 결합하여 쉽게 발명할 수 있어 진보성이 부정되고, 위 제1항의 진보성이 인정됨을 전제로 이를 인용하고 있는 특허청구범위 제4항 내지 제10항, 제15항, 제16항, 제18항, 제22항, 제25항, 제26항, 제27항 또한 진보성이 부정된다고 한 사례.

[1] 구 특허법(2001. 2. 3. 법률 제6411호로 개정되기 전의 것) 제133조 [2] 구 특허법(2001. 2. 3. 법률 제6411호로 개정되기 전의 것) 제133조 [3] 구 특허법(2001. 2. 3. 법률 제6411호로 개정되기 전의 것) 제29조 제2항

[1] 대법원 1984. 3. 27. 선고 81후59 판결 (공1984, 705) 대법원 1987. 7. 7. 선고 85후46 판결 (공1987, 1325) 대법원 2004. 5. 14. 선고 2002후1256 판결 (공2004상, 1014)

가부시키가이샤 아드반테스트 (소송대리인 변호사 손지열)

주식회사 테크윙 (소송대리인 특허법인 다래 담당변리사 곽동효외 6인)

특허법원 2007. 1. 18. 선고 2006허2752 판결

상고를 기각한다. 상고비용은 원고가 부담한다.

상고이유(상고이유서 제출기간 경과 후에 제출된 상고이유보충서는 상고이유를 보충하는 범위 내에서)를 판단한다.

1. 상고이유 제1점

특허무효심판을 청구할 수 있는 이해관계인이란 당해 특허발명의 권리존속으로 인하여 그 권리자로부터 권리의 대항을 받거나 받을 염려가 있어 그 피해를 받는 직접적이고도 현실적인 이해관계가 있는 사람을 말하고, 이에는 당해 특허발명과 같은 종류의 물품을 제조·판매하거나 제조·판매할 자도 포함된다 ( 대법원 1984. 3. 27. 선고 81후59 판결 , 대법원 1987. 7. 7. 선고 85후46 판결 등 참조).

위 법리와 기록에 비추어 살펴보면, 피고가 명칭을 ‘반도체디바이스 시험장치’로 하는 이 사건 특허발명(특허번호 생략)과 같은 종류의 반도체디바이스 시험장치를 제조·판매하거나 같은 방법의 반도체디바이스 검출방법을 실시하고 있음을 알 수 있고, 이와 같이 피고가 이 사건 특허발명과 같은 종류의 반도체디바이스 시험장치를 제조·판매하거나 같은 방법의 반도체디바이스 검출방법을 실시하고 있는 이상, 이 사건 특허발명의 특허청구범위 제2항, 제3항, 제21항, 제23항, 제24항의 구성과 같은 형태의 물품을 제조·판매하거나 같은 형태의 방법을 실시하고 있어야만 위 청구항들에 대하여 특허무효심판을 청구할 수 있는 이해관계를 인정할 수 있는 것도 아니므로, 피고가 위 청구항들에 대하여 특허무효심판을 청구할 수 있다고 본 원심판단은 그 이유 설시에서 미흡한 점이 있으나 결론에서 정당하며, 거기에 상고이유에서 주장하는 바와 같은 특허무효심판청구의 이해관계인 판단에 관한 법리오해 및 심리미진 등의 잘못이 없다.

2. 상고이유 제2, 3, 4점

기록에 비추어 살펴보면, 이 사건 특허발명의 특허청구범위 제1항(이하 ‘이 사건 제1항 발명’이라 하고, 다른 청구항도 같은 방식으로 표시한다)은 그 전체적인 구성과 작동과정이 원심 판시 비교대상발명 1과 같고, 이 사건 제1항 발명의 특징적인 구성인 반도체디바이스 검출센서, 타이밍 검출센서와 같은 기능을 하는 구성이 원심 판시 비교대상발명 2에 나와 있으며, 다만 비교대상발명 2에서 반도체디바이스 검출센서의 설치위치에 관하여 아무런 한정을 하지 않은 점에서만 차이가 있다.

그런데 비교대상발명 2의 종래기술에서는 테스트공정이 비교대상발명 1의 반도체디바이스 시험장치와 같은 형태로 이루어진 테스트핸들러와 테스터에 의하여 실시되는 경우를 들고 있기 때문에 비교대상발명 1의 반도체디바이스 시험장치에 비교대상발명 2의 반도체디바이스의 유무를 검출하는 구성을 결합함에 아무런 어려움이 없고, 나아가 비교대상발명 1에서 테스트트레이의 이동경로를 로우더부, 테스트부, 언로우더부로 나누고 있어 반도체디바이스 검출센서를 설치할 수 있는 위치는 로우더부와 테스트부 사이, 테스트부와 언로우더부 사이 및 언로우더부와 로우더부 사이로 한정될 수밖에 없으므로, 이 사건 제1항 발명의 반도체디바이스 검출센서의 설치위치는 테스트트레이 내의 반도체디바이스의 유무를 검출하는 목적에 따라 통상의 기술자가 쉽게 생각할 수 있는 정도에 지나지 않는다.

따라서 이 사건 제1항 발명은 비교대상발명 1, 2를 결합하여 쉽게 발명할 수 있어 진보성이 부정된다고 할 것이고, 이 사건 제1항 발명의 진보성이 인정됨을 전제로 이를 인용하고 있는 이 사건 제4항 내지 제10항, 제15항, 제16항, 제18항, 제22항, 제25항, 제26항, 제27항 발명의 진보성 또한 인정된다는 원고의 주장은 받아들일 수 없으므로, 이 사건 제1항, 제4항 내지 제10항, 제15항, 제16항, 제18항, 제22항, 제25항, 제26항, 제27항 발명의 진보성이 부정된다고 본 원심판단은 정당하며, 거기에 상고이유에서 주장하는 바와 같은 특허발명의 진보성 판단에 관한 법리오해, 사실오인 및 심리미진 등의 잘못이 없다. 그 외 원고의 상고이유에서의 주장은 위와 다른 견지에서 원심판단을 비난하는 것이어서 받아들일 수 없다.

3. 결론

그러므로 상고를 기각하기로 하여, 관여 대법관의 일치된 의견으로 주문과 같이 판결한다.