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주문
1. 원고들의 청구를 모두 기각한다.
2. 소송비용은 원고들이 부담한다.
이유
1. 기초사실
가. 이 사건 특허발명 1) 명칭: 반도체 검사 소켓 2) 출원일/ 등록일/ 등록번호: C/ D/ E 3) 특허권자: 원고들 4) 특허청구범위 가) 2013. 4. 1.자 정정청구 이전의 청구범위(청구항 5 내지 7, 9 내지 11은 2013. 4. 1.자 정정청구에 따른 정정 이후의 청구범위 기재와 동일하므로, 각 그 기재를 생략한다
) 【청구항 1】반도체소자의 리드가 접촉되는 영역에 형성된 도전성 실리콘부, 상기 도전성 실리콘부를 지지하도록 반도체소자의 리드가 접촉되지 않는 영역에 형성되어 절연층 역할을 하는 절연 실리콘부 및 상기 도전성 실리콘부의 상기 리드와 접촉되는 영역 내에 형성되는 적어도 하나의 절연 보강선을 포함하는 반도체 검사 소켓. 【청구항 2】제1항에 있어서, 상기 절연 실리콘부의 표면 영역 상에서 상기 복수 개의 절연 보강선을 연결하는 지지 보강선을 더 포함하는 반도체 검사 소켓. 【청구항 3】제2항에 있어서, 상기 반도체 검사 소켓은 상기 절연 보강선이 상기 반도체 검사 소켓의 폭의 방향인 제1방향으로 배치되며, 상기 제1방향의 절연 보강선과 직교하는 제2방향으로 배치되는 지지 보강선을 포함하는 반도체 검사 소켓. 【청구항 4】제2항에 있어서, 상기 반도체 검사 소켓은 상기 절연 보강선이 상기 반도체 검사 소켓의 폭의 방향인 제1방향으로 배치되며, 상기 제1방향의 절연 보강선과 직교하는 제2방향으로 단절되는 영역이 형성되는 반도체 검사 소켓. 【청구항 8】제1항에 있어서, 상기 절연 보강선은 상기 반도체소자의 리드들 간의 간격에 상응하게 조정되어 상기 도전성 실리콘부의 표면 영역 상에 형성되는 반도체 검사 소켓. 나) 2013. 4. 1.자 정정청구에 따른 정정 이후의 청구범위 청구항 8이 삭제되었고, 밑줄 친...