1. 특허심판원이 2016. 11. 30. 2016당1861호 사건에 관하여 한 심결을 취소한다.

2. 소송비용은...

1. 기초사실

가. 이 사건 심결의 경위 1) 원고는 2016. 6. 29. 아래 나.항 기재 이 사건 특허발명의 등록 이전인 2007. 3. 12.자 보정에서 청구항 1, 2에 신규사항이 추가되었고, 이 사건 특허발명의 청구항 1, 2, 4 내지 10에 기재불비 사유가 있으며, 청구항 1은 비교대상발명 1에 의해서 신규성이 부정되고, 청구항 1, 2, 4 내지 10은 비교대상발명 1 내지 6 비교대상발명 1 내지 6은 각각 대한민국 공개특허공보 제2002-0079350호, 일본 공개특허공보 특개2001-84841호, 일본 공개특허공보 특개2003-21648호, 일본 공개특허공보 특개2001-76539호, 일본 공개특허공보 특개2001-15190호, 일본 공개특허공보 특개2002-334732호이다. 그중 비교대상발명 1, 6은 이 사건 소에서 각각 선행발명 1, 5로 제출되었다. 에 의하여 진보성이 부정된다고 주장하며, 피고를 상대로 특허심판원 2016당1861호로 이 사건 특허발명에 대한 특허무효심판을 청구하였다. 2) 특허심판원은 2016. 11. 30. '2007. 3. 12.자 보정은 신규사항 추가에 해당하지 아니하고, 이 사건 특허발명의 청구항 1, 2, 4 내지 10에는 기재불비 사유가 없으며, 청구항 1은 비교대상발명 1에 의하여 신규성이 부정되지 아니하고, 청구항 1, 2, 4 내지 10은 비교대상발명 1 내지 6에 의하여 진보성이 부정되지도 아니한다

'는 이유로 원고의 위 심판청구를 기각하는 이 사건 심결을 하였다.

나. 이 사건 특허발명(갑 제2, 3호증) 발명의 명칭: 이방도전성 이방(異方)도전성은 도전율의 물리적 성질이 방향에 따라 달리 나타나는 것으로, 모든 방향에 대하여 변하지 않는 등방(等方) 도전성의 반대 성질을 말한다.

커넥터 및 프로브 부재 및 웨이퍼 검사 장치 및 웨이퍼 검사 방법 우선일/ 국제출원일/ 번역문제출일/ 등록일/ 등록번호: 2003. 2. 18./ 2004...