1. 피고는 원고에게 30,712,000원 및 이에 대하여 2014. 2. 4.부터 2016. 6. 24.까지는 연 5%의, 그 다음...

1. 기초사실

가. 당사자들의 지위 피고는 삼성전자 주식회사(이하 ‘삼성전자’라 한다)의 1차 협력업체로서 전자부품 제조 판매업, 소프트웨어 개발업 등을 목적으로 하는 회사이고, 원고는 반도체 부품 제조업, 반도체 디스플레이어 제조업 등을 목적으로 하는 회사이다.

나. 개발용역계약의 체결 피고는 2011. 11. 15. 삼성전자로부터 iPhone4S에 탑재되는 A5 칩을 검사하기 위한 프로브 카드(모델명 S5L8945, Probe card : 반도체의 동작을 검사하기 위하여 반도체 칩과 테스트 장비를 연결하는 장치로서 프로브 카드에 장착되어 있는 프로브 바늘이 웨이퍼를 접촉하면서 전기를 보내고, 그 때 들어오는 신호에 따라 불량 반도체 칩을 선별하는 기능을 한다)의 공급을 요청받고, 2011. 11. 23. 원고와 사이에 원고가 프로브 카드(모델명 S5L8945, 이하 ‘8945카드’라 한다)를 제작하여 피고에게 공급하는 계약 이하 '이 사건 개발용역계약'이라 한다

)을 체결하였는데, 그 주된 내용은 아래와 같다. 개발용역계약서 제2조 (계약의 이행) 원고는 본 계약서, 요구사양서, 설계도면, 공정도 등 피고와 합의한 모든 사항을 이행하여야 하며, 피고와 원고는 계약 내용을 신의에 따라 성실히 이행하여야 한다. 제3조 (검사 및 납품

1. 원고는 본 계약서에 첨부한 “카드제작 Inform(삼성 제시본)”에 명시된 개발제품을 협의된 납기에 따라 피고에게 납품하여야 한다.

2. 원고는 납품목록에 기재된 내역의 개발제품에 대한 성능을 입증하기 위하여 피고가 제시한 카드제작 Inform의 검사 항목 및 시험절차에 의거 피고에게 검수를 요청하여야 한다.

제4조 (최종 납품) 전 제3조 제2항의 검수에 대한 기준은 피고가 정하여 원고에게 제시한 카드제작 Inform에 의하며, 같은 기준에...