1. 원고의 항소를 기각한다.

2. 항소비용은 원고가 부담한다.

청구취지 및 항소취지

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1. 이 법원의 심판범위 원고는 제1심에서 피고에 대하여 이 사건 제1, 2, 5, 8, 10 특허발명으로 인한 직무발명보상금의 일부로 500,000,100원 및 이에 대한 지연손해금의 지급을 구하였고, 제1심 법원은 이를 모두 기각하였다.

이에 대하여 원고는 이 사건 제5 특허발명으로 인한 직무발명보상금의 일부청구 부분에 대해서만 불복하여 항소하였으므로, 이 법원의 심판대상은 이 사건 제5 특허발명으로 인한 직무발명보상금 청구 부분에 한정된다.

2. 기초사실

가. 당사자들의 지위 피고는 대표이사 C이 2006. 5. 25. 설립한 반도체 장비 제조업체로서, D, E, F, G 등의 제품(이하 ‘피고 제품’이라 한다)을 제조, 판매하고 있다.

원고는 피고 설립 당시부터 하드웨어팀장 또는 연구소장으로 근무하다가 2012. 4. 30.경 퇴사하였다.

나. 관련 기술 반도체 디바이스를 제조할 때 제조공정의 마지막 단계에서 반도체 디바이스 테스트 장치를 이용하여 테스트 대상 반도체 디바이스(Device Under Test, 이하 ‘DUT’라 한다)의 불량 여부를 테스트하는 공정을 거친다.

반도체 디바이스 테스트 장치는 아래 그림과 같이 테스트 핸들러(test handler), 하이픽스 보드(HiFix board), 테스트 헤더(test header)로 구성되는데, ① 테스트 핸들러는 검사 대상 반도체 디바이스를 테스트 위치로 이송하고 테스트 결과에 따라 분류하며, ② 테스트 헤더는 필요한 전원과 각종 신호를 인가하여 DUT 불량 여부를 판별하고, ③ 하이픽스 보드는 테스트 헤더와 테스트 핸들러 사이를 전기적으로 연결한다.

그런데 DUT의 개수가 커질수록 검사 기능을 담당하는 테스트 헤더가 수행해야 할 일이 늘어나 업그레이드가 필요하나 테스트 헤더는 고가의 장비여서 상당한 비용이 드는 문제점이 있었다.

BOST Built...