1. 원고의 청구를 기각한다.

2. 소송비용은 보조참가로 인한 부분을 포함하여 원고가 부담한다.

1. 기초 사실

가. 이 사건 심결의 경위 1) 원고는 2016. 4. 11. 특허심판원에 원고의 등록특허 제916762호 발명의 청구항 1을 정정하는 내용의 정정심판을 청구하였다(이하 이 사건 정정심판청구에 의한 특허발명을 ‘이 사건 정정발명’이라 하고, 그 청구항 1을 ‘이 사건 제1항 정정발명’이라고 한다

). 2) 특허심판원은 위 정정심판 청구를 2016정40호로 심리한 다음, 2016. 6. 30. 이 사건 제1항 정정발명은 청구범위를 감축하는 경우에 해당하고, 특허발명의 명세서에 기재된 사항의 범위 이내의 정정이며, 청구범위를 실질적으로 확장하거나 변경한다고 볼 수 없으므로, 구 특허법(2008. 12. 26. 법률 제9249호로 개정되기 전의 것, 이하 ‘구 특허법’이라 한다) 제136조 제1항 내지 제3항의 정정요건을 충족하나, 그 기술분야에서 통상의 지식을 가진 사람(이하 ‘통상의 기술자’라 한다)이 선행발명 아래의 이 사건 선행발명(을가 제7호증)과 동일하다.

으로부터 쉽게 발명할 수 있어 진보성이 부정되므로 구 특허법 제136조 제4항의 요건을 충족하지 못한다는 이유로 원고의 위 정정심판 청구를 기각하는 이 사건 심결을 하였다.

나. 이 사건 정정발명(갑 제1 내지 3호증, 을가 제5호증) 1) 발명의 명칭 : 반도체 디바이스 테스트 시스템 2) 출원일/ 등록일/ 등록번호 : 2007. 12. 10./ 2009. 9. 3./ 제916762호 3) 특허권자 : 원고 4) 발명의 주요 내용 도

2. 종래의 반도체 테스트 헤더 장치 가) 종래기술의 문제점 및 기술적 과제 종래의 반도체 테스트 헤더 장치의 테스트 헤더(20)는 우측의 도 2와 같이 반도체 테스트를 위한 정해진 테스트 패턴 신호를 발생시키는 ALPG(ALgorithmic Pattern Generator, 21), ALPG(21)로부터 출력되는 테스트 패턴 신호를 반도체 디바이스인 DUT(Device Under...