1. 피고인들의 지위 피고인 A은 2009. 10. 경 피해자 주식회사 G( 이하 ‘ 피해자 회사 ’라고 한다) 의 대표이사로 근무하면서 반도체 결함 검사장비 개발부서를 총괄하는 업무를 담당하다가, 2012. 10. 중순경 퇴사하고 피고인 주식회사 C( 이하 ‘ 피고인 C’ 이라고만 한다 )에서 대표이사로 근무하고 있고, 피고인 B은 2011. 2. 21. 경 피해자 회사에 입사하여 반도체 결함 검사장비 개발부서에서 소프트웨어 개발 담당 연구원으로 근무하다가, 2012. 10. 15. 경 퇴사하고 부정기적으로 피고인 C과 협력하여 업무를 수행한 바 있으며, 피고인 C은 2012. 10. 경 반도체 검사장비의 제조 ㆍ 판매 등을 목적으로 설립된 회사이다.

2. 피해자 회사의 반도체 결함 검사 장비 H 개발 경위 피해자 회사는 반도체 결함 검사 장비 및 광학 오버레이 (Overlay) 측정 장비 등의 개발, 제조, 판매를 목적으로 설립된 회사로서, 2009. 10. 경부터 2012. 10. 경까지 89억여 원의 연구 개발비를 투입하여 반도체 결함 검사 장비인 H을 국내 최초로 개발하여 완제품을 생산하기 위한 준비를 하고 있었는데, H의 하드웨어는 피해자 회사의 한국 본사에서 직접 개발을 진행하고, H의 소프트웨어는 피해자 회사의 이스라엘 지사를 주축으로 국내 개발자와 공동으로 연구ㆍ개발을 진행한 바 있다.

3. 피고인 A의 범행 결의 피고인은 2012. 5. 경 피해자 회사의 반도체 결함 검사 장비 개발부서와 광학 오버레이 (Overlay) 측정 장비 개발부서 중 자신이 대표이사로서 총괄하고 있었던 반도체 결함 검사 장비 개발부서를 분사하여 별도의 법인을 설립하자는 제안을 하였으나 경영진들의 반대로 인하여 뜻을 이루지 못하게 되자, 위 경영진들 몰래 별도의 반도체 결함 장비 생산업체인 피고인 C을...