beta
(영문) 서울중앙지방법원 2018.08.23 2017나90386

손해배상(기)

Text

1. The Plaintiff’s appeal against the Defendants and the Plaintiff’s claim against Defendant C added at the trial court, and Defendant B-C.

Reasons

1. Basic facts

A. The Plaintiff’s relationship 1) From around 2005 to May 2012, the Plaintiff majored in mechanical engineering, such as MFS (Microctic Ems, ultra-Stop electrical machinery systems) and semiconductor process, and obtained a doctor’s degree in a thesis, theme of which was “E” around 2010. The Plaintiff returned from Korea to F University (hereinafter “F Bank”) is only referred to as “F Bank” from January 1, 2010 to May 2012.

(2) Defendant C was employed as a professor of the F physical department from around 2002 to around 2012, and carried out research related to space network development, etc.

3) 피고 B는 2006년경부터 2012년경까지 F대 대학원 석ㆍ박사 통합과정에서 지도교수인 피고 C이 단장으로 있던 ‘J’에 소속되어 ‘Q’ 소속 4개 팀 중 하나인 ‘H 팀’의 팀원으로 MEMS 반도체 기술을 이용한 마이크로미러(망원경용 미세거울) 공정연구를 수행하였다. 나. 원고의 논문이 ‘네이처(Nature)’지에 게재되기까지의 경과 1) 원고는 2007년 말경 버클리 대학 박사학위 과정에서 광센서 제작에 사용되는 반도체 박막을 여러 두께로 증착하는 실험을 하던 중, 실패한 실험에서 우연히 균열(Crack)이 규칙적으로 발생하는 현상을 발견하고, 균열을 만들고 원하는 곳에서 멈추게 하는 등 균열을 제어하는 방법에 관하여 관심을 갖게 되어, 당시 버클리 대학에서 만난 I기관(이하 ‘I’라 한다)의 D 교수와 함께 그에 관한 기존 교과서나 논문 등을 통하여 이론적인 공부를 하고 틈틈이 실험을 통하여 샘플을 수집하는 등 ‘반도체 균열 제어’에 관한 연구(이하 ‘이 사건 연구’라 한다)를 진행하였다.

2 The Plaintiff, around the end of 2009, intends to enter the research of this case in Korea and to support I with research professors.