2. 소송비용은 원고가 부담한다.

가. 당사자들의 지위 1) 피고 회사는 피고 회사의 대표이사인 C이 2006. 5. 25. 설립한 반도체 장비 제조업체로 D, E, F, G 등의 제품을 제조, 판매하고 있다. 2) 원고는 피고 회사에서 설립 시부터 하드웨어팀장 또는 연구소장으로 근무하다

2012. 4. 30. 퇴사하고 2012. 6.경 피고 회사와 동종업계인 주식회사 H를 설립하였다.

나. 피고는 아래 이 사건 특허발명들의 특허권자이다.

1) 이 사건 특허발명들 관련 기술 집적회로 소자와 같은 반도체 디바이스를 제조할 때 제조공정의 마지막 단계에서 테스트 대상 반도체 디바이스(Device Under Test, DUT)의 불량 여부를 검사하기 위한 테스트 공정을 거치는데, 이 사건 특허발명들은 반도체 디바이스의 테스트 공정에 사용되는 장치에 관한 것이다. 일반적인 반도체 테스트 장치는 아래 그림과 같이 테스트 핸들러, 하이픽스 보드 및 테스트 헤더로 구성된다. 테스트 핸들러는 검사 대상 반도체 디바이스를 테스트 위치로 이송하고 테스트 결과에 따라 분류한다. 테스트 헤더는 필요한 전원과 각종 신호를 인가하여 테스트 대상 반도체 디바이스의 불량 여부를 판별하고, 하이픽스 보드는 테스트 헤더와 테스트 핸들러 사이에서 전기적으로 연결한다. 이 같은 반도체 디바이스 테스트 장치는 테스트 헤더가 테스트 대상 반도체 디바이스를 실질적으로 검사하는데, 테스트 대상 반도체 디바이스의 개수가 커질수록 테스트 헤더가 수행해야 할 일이 늘어남으로써 테스트 헤더의 업그레이드가 필요해진다. 그러나 테스트 헤더는 가격이 비싼 장비여서 업그레이드에도 상당한 비용이 든다는 문제점이 있다. 이에 대한 해결수단으로 개발된 기술이 BOST(Built-Off Self-Test, 외장 자체 테스트 기술인데, BOST...