등록무효(특)
1. 원고의 청구를 기각한다.
2. 소송비용은 원고가 부담한다.
1. 기초 사실
가. 이 사건 심결의 경위 1) 피고는 2015. 7. 27. 특허심판원에 원고의 등록특허 제916762호 발명(이하 ‘이 사건 특허발명’이라 한다
)의 청구항 1에 대하여 등록무효심판을 청구하였고, 이에 대하여 원고는 2015. 10. 14. 이 사건 등록무효심판 절차에서 이 사건 특허발명의 청구항 1 및 2를 정정하는 정정청구를 하였다(이하 이 사건 정정청구에 의한 특허발명을 ‘이 사건 정정발명’이라 하고, 그 청구항 1을 ‘이 사건 제1항 정정발명’이라고 한다
). 2) 특허심판원은 위 등록무효심판 청구를 2015당4057호로 심리한 다음, 2016. 1. 15. 정정은 인정되나 이 사건 제1항 정정발명은 그 기술분야에서 통상의 지식을 가진 사람(이하 ‘통상의 기술자’라 한다)이 선행발명 4 아래의 선행발명 4(을 제4호증)와 동일하다.
로부터 쉽게 발명할 수 있어 진보성이 부정되므로 무효라는 이 사건 심결을 하였다.
나. 이 사건 정정발명(갑 제1 내지 3호증) 1) 발명의 명칭 : 반도체 디바이스 테스트 시스템 2) 출원일/ 등록일/ 등록번호 : 2007. 12. 10./ 2009. 9. 3./ 제916762호 3 특허권자 : 원고 도
2. 종래의 반도체 테스트 헤더 장치 4) 발명의 주요 내용 가) 종래기술의 문제점 및 기술적 과제 종래의 반도체 테스트 헤더 장치의 테스트 헤더(20)는 우측의 도 2와 같이 반도체 테스트를 위한 정해진 테스트 패턴 신호를 발생시키는 ALPG(ALgorithmic Pattern Generator, 21), ALPG(21)로부터 출력되는 테스트 패턴 신호를 반도체 디바이스인 DUT(Device Under Test, 30)에 기록하는 드라이버(25)와 DUT(30)에 의해 판독된 테스트 패턴의 판독 신호와 해당 반도체의 특성에 대응되는 기준 신호를 비교하여 그 비교 값을 출력하는 컴퍼레이터(27)를 포함하는 핀 일렉트로닉스부(Pin Electronic; PE),...