기록에 비추어 살펴보면, 명칭을 ‘반도체 디바이스 시험장치 및 그 시험장치에 사용되는 테스트 트레이’로 하는 이 사건 특허발명(특허번호 제312093호)의 청구항들은 원심 판시 비교대상발명 1-4와 전체적인 구성에서는 차이가 없고, 다만, 비교대상발명 1-4에 이 사건 특허발명의 특징적 구성인 테스트 트레이의 반송경로를 복수경로 내지 광폭경로로 한 구성과 일부 종속항에서 한정한 온도 스트레스 부여수단에서의 테스트 트레이 간의 결합관계 및 이 사건 특허발명의 반도체 디바이스 시험장치에 설치되는 테스트 트레이의 구체적인 형상이 나와 있지 않은 점에서만 차이가 있으나, 비교대상발명 4에는 일부 종속항에서 한정한 온도 스트레스 부여수단에서의 테스트 트레이 간의 결합관계 및 이 사건 특허발명의 반도체 디바이스 시험장치에 설치되는 테스트 트레이의 구체적인 형상이 나와 있다.

한편, 원심 판시 비교대상발명 2-2에 종래기술과 관련하여 테스트부를 늘릴 수 없음에 따라 테스트에 필요한 시간이 길어지는 문제점과 테스트에 필요한 시간이 짧을 경우 시스템 전체의 처리능력이 로더부 또는 언로더부에서의 처리능력에 의하여 제약을 받는 문제점이 지적되고 있고, 테스트부에서의 테스트 트레이의 반송경로를 단수경로보다 복수경로 내지 광폭경로로 하는 것이 단위시간당 더 많은 테스트를 할 수 있음과 언로더부에서 로더부에 이르는 테스트 트레이의 반송경로를 단수경로보다 복수경로 내지 광폭경로로 하는 것이 테스트가 끝난 반도체 디바이스를 더 많이 처리할 수 있음이 통상의 기술자에게 자명하므로, 이와 같은 비교대상발명 2-2에 나타나 있는 문제의식과 해결방안을 알고 있는 통상의 기술자라면, 테스트부에서의 반도체 디바이스의 테스트에 필요한 시간이 긴 경우에는 비교대상발명 1-4의 온도 스트레스 부여수단으로부터 테스트부를 지나 제열/제냉수단에 이르는 테스트 트레이의 반송경로를 복수경로 내지 광폭경로로 함으로써 테스트에 걸리는 단위시간을 줄일 수 있다는 것과, 테스트부에서의 반도체 디바이스의 테스트에 필요한 시간이 짧아 언로더부에서 로더부에 이르는 테스트 트레이의 반송경로에서 테스트가 끝난 반도체 디바이스의 처리가 지연되는 경우에 비교대상발명 1-4의 언로더부에서 로더부에 이르는 테스트 트레이의 반송경로를 복수경로 내지 광폭경로로 함으로써 테스트가 끝난 반도체 디바이스를 더 많이 처리할 수 있다는 것 등을 쉽게 생각할 수 있다고 할 것이다.

따라서 이 사건 특허발명의 청구항들은 그 전체적인 구성이 나와 있는 비교대상발명 1-4에 비교대상발명 2-2 또는 이에 비교대상발명 4를 결합하여 쉽게 발명할 수 있어서 그 진보성이 부정된다고 할 것이므로, 같은 취지로 판단한 원심은 정당하고, 거기에 상고이유로 주장하는 바와 같은 특허발명의 진보성 판단에 관한 법리오해, 심리미진 및 이유불비 등의 위법이 없으며, 피고의 상고이유에서의 주장은 독자적인 견해에서 원심을 비난하는 것이어서 받아들일 수 없다.

그러므로 상고를 기각하고, 상고비용은 패소자가 부담하기로 하여 관여 대법관의 일치된 의견으로 주문과 같이 판결한다.